С 20 по 24 ноября в Московском технологическом университете (МИРЭА, г. Москва) прошла Международная конференция «INTERMATIC-2017», посвященная проблемам радиоэлектронного приборостроения. В ней было заявлено более 300 докладчиков из более 25 стран.
В конференции принял участие сотрудник нашей академии Скрябин Юрий Михайлович - ассистент кафедры физики. Юрий Михайлович выступил с докладом «Влияние емкости измерительного электрода на чувствительность измерений электростатического флюксметра» и был награжден дипломом лауреата конкурсной программы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC-2017» в области программирования.

На конференции собрались люди разных специальностей: технологи, проектировщики, радиофизики, программисты и психологи в области микроэлектроники и радиоволн любых диапазонов. Конференция позволила участникам разносторонне взглянуть на свои работы и наладить контакты с представителями различных сфер профессиональной деятельности.